热学性质表征
效应测试仪
发布日期:2025-10-13作者:点击:


一、仪器简介

1、型号:M75-K25/6R

2、生产厂家:美国MMR公司

3、主要技术指标:温度区域:310K~523K;温控精度:0.1K;输入电流范围:0.1pA~10mA;输入电压范围:+/-2.5V,最小可测到6×10-6V

二、设备功能(测试项目)

1、测量半导体及薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数

三、样品要求

1、块体样品厚度不超过0.5mm

四、收费标准

具体测试收费视情况而定

五、联系方式

1、联系人:夏盛清,13954107892,shqxia@sdu.edu.cn

2、设备放置地点:晶体所1楼133

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