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微区光谱测试系统
发布日期:2025-10-13作者:点击:


一、仪器简介

1、型号:20/30 PVPROTM

2、生产厂家:CRAIC

3、主要技术指标:

光度计光谱范围200 nm-2500 nm

样品测量范围1-10000 μm2

薄膜厚度测量厚度≤5 nm可测量

分辨率:1-25 nm

二、设备功能(测试项目)

1、吸收透过

2、反射率

三、样品要求

适用于片状、块状、薄膜、粉末等多种固体样品,其中透过率测试样品厚度不超过1 mm.

四、收费标准

具体收费标准请联系设备负责人

五、联系方式

1、联系人:

申义豪,13253386976,1532215875@qq.com

王树贤,18764422091,shuxianwang@sdu.edu.cn

2、设备放置地点:功能晶体材料楼229

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